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	<title>Goniometrische Reflexions- oder Transmissionsmessung &#8211; MountainPhotonics</title>
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	<description>Über mehr als 70 Jahre Erfahrung in Vertrieb und Applikation von optischer Messtechnik</description>
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		<title>GAM &#8211; 191F Reflexionsmessköpfe</title>
		<link>https://mountainphotonics.de/product/191f-reflexionsmesskoepfe/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[Kathrin Beckstein]]></dc:creator>
		<pubDate>Mon, 28 Jan 2019 11:07:39 +0000</pubDate>
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					<description><![CDATA[Die 191F Reflexionsmessköpfe sind für verschiedene Winkel des einfallenden Lichtes zwischen 0° und 45°erhältlich. Außerdem gibt es auch eine Handgerätlösung. Der Messkopf kann die Reflexion der ersten Oberfläche sowie die vollständige gerichtete Reflexion getrennt voneinander aufnehmen. Typische Oberflächen sind Glas, Plastik, Metall oder polierte Oberflächen mit einer Dicke von mindestens 0,15 mm. Die spektrale Messung [&#8230;]]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Die 191F Reflexionsmessköpfe sind für verschiedene Winkel des einfallenden Lichtes zwischen 0° und 45°erhältlich. Außerdem gibt es auch eine Handgerätlösung.</p>
<p>Der Messkopf kann die Reflexion der ersten Oberfläche sowie die vollständige gerichtete Reflexion getrennt voneinander aufnehmen. Typische Oberflächen sind Glas, Plastik, Metall oder polierte Oberflächen mit einer Dicke von mindestens 0,15 mm. Die spektrale Messung reicht von 365 nm bis 1100 nm.</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
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		<title>GAM &#8211; GS-191-FA-1045 Vollautomatisches Reflexionsmesssystem</title>
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		<dc:creator><![CDATA[Kathrin Beckstein]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 08 Jan 2019 14:56:09 +0000</pubDate>
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					<description><![CDATA[Dieses vollautomatische Reflexionsmesssystem ermittelt gleichzeitig die spektralen und colarimetrischen Reflexionsdaten unter 0° und 45° Einfallswinkel. Hierbei werden die Substrate auf einem rotierenden Tisch der Reihe nach gemessen. Die Proben bestehen dabei aus beschichtetem Glas, polierten Oberflächen oder diffus reflektierenden Oberflächen. Die Dicke muss hierbei mindestens 500 µm betragen. Das System benötigt typischerweise 200 ms pro [&#8230;]]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Dieses vollautomatische Reflexionsmesssystem ermittelt gleichzeitig die spektralen und colarimetrischen Reflexionsdaten unter 0° und 45° Einfallswinkel. Hierbei werden die Substrate auf einem rotierenden Tisch der Reihe nach gemessen. Die Proben bestehen dabei aus beschichtetem Glas, polierten Oberflächen oder diffus reflektierenden Oberflächen. Die Dicke muss hierbei mindestens 500 µm betragen. Das System benötigt typischerweise 200 ms pro Messpunkt.</p>
<p>Über ein hochpräzises Spektrometer werden sowohl der Reflexionsindex als auch die Beschichtungsdicke in industrietauglicher Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Druchsatz ermittelt.</p>
]]></content:encoded>
					
		
		
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		<title>GAM &#8211; GS-191-SA-1045 Halbautomatisches Reflexionsmesssystem</title>
		<link>https://mountainphotonics.de/product/gs-191-sa-1045-halbautomatisches-reflexionsmesssystem/</link>
		
		<dc:creator><![CDATA[Kathrin Beckstein]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 08 Jan 2019 14:54:32 +0000</pubDate>
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					<description><![CDATA[Dieses halbautomatische Reflexionsmesssystem bestimmt gleichzeitig und automatisch vollständige spektrale und colorimetrische Reflexionsdaten bei 0° und 45° Einfallswinkel. Typische Oberflächen sind beschichtetes Glas, polierte Oberflächen oder diffus streuende Oberflächen. Das Substrat muss mindestens 500 µm dick sein. Die Scandauer pro Messpunkt beträgt ca. 200 ms. Durch die hoch präzise spektroradiometrische Messtechnik von Gamma Scientific ist das [&#8230;]]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Dieses halbautomatische Reflexionsmesssystem bestimmt gleichzeitig und automatisch vollständige spektrale und colorimetrische Reflexionsdaten bei 0° und 45° Einfallswinkel. Typische Oberflächen sind beschichtetes Glas, polierte Oberflächen oder diffus streuende Oberflächen. Das Substrat muss mindestens 500 µm dick sein. Die Scandauer pro Messpunkt beträgt ca. 200 ms.</p>
<p>Durch die hoch präzise spektroradiometrische Messtechnik von Gamma Scientific ist das GS-191-SA-1045 in der Lage industrietaugliche Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Durchsatz für die Bestimmung des Reflexionsindex als auch der Beschichtungsdicke zu gewährleisten.</p>
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