THOR System – spiegelfreie, konfokale Ramanmikroskope
Als mit Abstand größte Ramanmikroskope von Lightnovo bieten die Komplettsysteme THOR B und THOR S neben Messungen von Ramanspektren einige weiterführende Methoden an, die ihre Anwendungsmöglichkeiten enorm erweitern. Wie alle Spektrometer von Lightnovo basieren sie auf Diffraktionsoptiken mit einem sehr hohen Durchsatz und einer extrem stabilen Laserleistung. Zusammen ergibt sich eine hohe räumliche wie auch spektrale Auflösung, ein sehr niedriges Rauschen und ein sehr breit erfasster Spektralbereich. Als spezielles Feature ermöglichen die THOR-Mikroskope, einfach per Knopfdruck zwischen verschiedenen Laserwellenlängen, Filtern, Gittern oder Weisslicht-Mikroskopiefiltern zu wechseln.
THOR kann außerdem mit der qRICO-Technik ausgestattet werden, die in Zusammenarbeit mit Xnovo Technology ApS entwickelt wurde. qRICO (quantitative Raman Imaging for Crystal Orientation) erlaubt, dreidimensionale Bilder von Proben zu erstellen, was die Untersuchungen von z.B. 2D-Materialien, Schichtkeramiken, Siliziumwafern oder elektronischen Bauteilen durch Ramanspektroskopie erlaubt.
Die Software Miraspec (Windows 7, 10) wird per USB-Kabel zugeschaltet und erlaubt bei der Datenerfassung und Bedienung des Mikroskops die Kontrolle der optomechanischen Einheiten (Tausch von Lasern, Gittern, Filtern, Strahlteilern, etc.), Erfassung von Ramandaten in x, Y und Z oder Probenrotation für polarisierte Ramanmikroskopie.
Anwendungsbereiche
- Schnelle, bildgebende Verfahren in 3D
- SERS (surface enhanced Raman spectroscopy)
- Polarisierte Ramanmessungen
- Ramanmessungen im sehr niedrigen Wellenzahlbereich
- Stokes/Anti-Stokes Ramanmessungen
Zubehör
- Satz an Kalibrierproben für Raman und polarisierte Raman-Mikroskopie
- Adapter für verschiedene Probenmessmethoden
- Mikroskopobjektive für die Vergrößerungen 10x (NA = 0.25), 20x (NA = 0.4), 50x (NA=0.5) und 100x (NA = 0.95)
- Speziell angefertigte Mikroskopobjektive auf Anfrage
Spezifikationen
| Feature vs. model* | THOR B | THOR S |
|---|---|---|
| Spectroscopic sensor | sCMOS (scientific Complimentary Metal-Oxide Semiconductor) | EMCCD Electron-Multiplying Charge-Coupled Device) |
| Lasers and laser power options* | 405 nm (50 mW), 455 nm (200 mW), 532 nm (200 mW/500 mW) 633 nm (70 mW), 785 nm (100 mW/500 mW) |
|
| Spectral range | 50 - 3700 cm⁻¹ | |
| Spectral resolution | 3 - 5 cm⁻¹ | |
| Signal-to-noise ratio** | 1000:1 | |
| Lateral resolution*** | 280 nm | # colspan# |
| Axial resolution*** | 600 nm | |
| White light microscopy | Reflected light with simultaneous visualization of laser spot and Raman spectrum acquisition | |
| Mapping travel range (XYZ) | 120 mm x 120 mm x 20 mm (120 mm x 120 mm x 20 mm****) | |
| Lateral step size | 200 nm (1 nm****) | |
| Axial step size | 200 nm (1 nm****) | |
| Physical dimensions | 800 mm x 800 mm x 1100 mm (LxWxH) | |
| Weight | 180 kg | |
** determined as singal-to-noise ratio of a polystyrene spectrum at maximum laser power, integration time 0.3 s and 10 accumulations.
*** determined with microscope objective NA = 0.95 (100-fold magnification) at laser wavelength 532 nm
**** with closed-loop nano stage