GS-191-FA-1045 Vollautomatisches Reflexionsmesssystem

Dieses vollautomatische Reflexionsmesssystem ermittelt gleichzeitig die spektralen und colarimetrischen Reflexionsdaten unter 0° und 45° Einfallswinkel. Hierbei werden die Substrate auf einem rotierenden Tisch der Reihe nach gemessen. Die Proben bestehen dabei aus beschichtetem Glas, polierten Oberflächen oder diffus reflektierenden Oberflächen. Die Dicke muss hierbei mindestens 500 µm betragen. Das System benötigt typischerweise 200 ms pro Messpunkt.

Über ein hochpräzises Spektrometer werden sowohl der Reflexionsindex als auch die Beschichtungsdicke in industrietauglicher Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Druchsatz ermittelt.