GS-191-SA-1045 Halbautomatisches Reflexionsmesssystem

Dieses halbautomatische Reflexionsmesssystem bestimmt gleichzeitig und automatisch vollständige spektrale und colorimetrische Reflexionsdaten bei 0° und 45° Einfallswinkel. Typische Oberflächen sind beschichtetes Glas, polierte Oberflächen oder diffus streuende Oberflächen. Das Substrat muss mindestens 500 µm dick sein. Die Scandauer pro Messpunkt beträgt ca. 200 ms.

Durch die hoch präzise spektroradiometrische Messtechnik von Gamma Scientific ist das GS-191-SA-1045 in der Lage industrietaugliche Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und Durchsatz für die Bestimmung des Reflexionsindex als auch der Beschichtungsdicke zu gewährleisten.